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自動(dòng)光譜橢偏儀光譜范圍覆蓋從深紫外到可見光再到近紅外.深紫外波長(zhǎng)非常適合測(cè)量超薄薄膜，比如納米厚度薄膜厚度，比如硅晶圓的薄膜厚度，典型值在2nm左右。對(duì)于測(cè)量許多材料的帶隙，深紫外光譜橢偏儀也非常重要。橢圓偏振技術(shù)是通過研究光束在樣本表面反射后偏振態(tài)變化而獲得表面薄膜厚度等信息的薄膜測(cè)量技術(shù)。與反射計(jì)或反射光譜技術(shù)不同的是，光譜橢偏儀參數(shù)Psi和Del并非在常見入射角下獲得。通過改變?nèi)肷浣谴笮?，可獲得許多組數(shù)據(jù)，這樣就非常有助于優(yōu)化橢偏儀測(cè)量薄膜或樣本表面的能力，因此變角橢偏...

高精度的機(jī)器設(shè)備對(duì)于現(xiàn)代化工廠來說，是重要的，采購在選擇的時(shí)候會(huì)考慮很多因素，對(duì)于生產(chǎn)制造而言，設(shè)備的質(zhì)量好，適合生產(chǎn)要求，可以極大的提高企業(yè)工作效率，提高產(chǎn)能，并且對(duì)企業(yè)發(fā)展起到一定的推動(dòng)作用，所以，采購在設(shè)備的選擇購買上一般都會(huì)很慎重。既然這樣，像光學(xué)膜厚儀這類光學(xué)高精度儀器，如何選擇適合自己企業(yè)生產(chǎn)的機(jī)臺(tái)？但是，市場(chǎng)上，經(jīng)銷商那么多，各種型號(hào)，諸多選擇，人們就會(huì)很困擾，如何選擇。那么就以我們優(yōu)尼康為例，和大家說一說如何選擇，給大家起到一個(gè)參考作用。優(yōu)尼康科技有限公司是一...

膜厚儀作為一種測(cè)量膜層厚度的儀器，在很多的行業(yè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用，尤其是光學(xué)膜厚儀，因?yàn)闇y(cè)量精度高、非接觸方、無須破壞樣品等優(yōu)點(diǎn)，受到眾多企業(yè)用戶和高校老師的喜愛，今天主要對(duì)光學(xué)膜厚儀做個(gè)簡(jiǎn)單了解。光學(xué)膜厚儀的優(yōu)點(diǎn)1.非接觸式測(cè)量光學(xué)膜厚儀采用的原理是通過光的反射原理對(duì)膜層厚度進(jìn)行測(cè)量，屬于非接觸式測(cè)量方法，不會(huì)對(duì)樣品造成任何損傷，能夠樣品的完整性。2.測(cè)量數(shù)據(jù)多樣可以測(cè)得物體的膜厚度和n，k數(shù)據(jù)，這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點(diǎn)。3.測(cè)量快速光學(xué)膜厚儀的測(cè)量過程非?？?..

臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的，更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測(cè)量，通過在研究工作中的廣泛使用，臺(tái)階儀一定能夠做到功能更強(qiáng)大，操作更簡(jiǎn)易，檢測(cè)過程和數(shù)據(jù)采集更完善。臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。臺(tái)階儀具備高精度、方便使用、作用強(qiáng)等優(yōu)勢(shì)...

1、無損檢測(cè)手持式合金分析儀無損檢測(cè)與破壞性檢測(cè)方法不同，樣品在整個(gè)測(cè)試過程中無任何損壞。2、特殊構(gòu)造采用堅(jiān)韌的LEXAN，塑料密封外殼，重量輕，堅(jiān)固耐用；密封式一體化設(shè)計(jì)，防塵、防水、防腐蝕，可在任何地方安全使用。3、性能精度高，實(shí)驗(yàn)室級(jí)的分析水平，可直觀顯示合牌號(hào)和元素百分比含量(某些元素可顯示到小數(shù)點(diǎn)后三位)及ppm含量。速度快，操作簡(jiǎn)單“開機(jī)啟動(dòng)—瞄準(zhǔn)測(cè)試—察看結(jié)果”，整個(gè)分析過程僅需數(shù)秒便可完成，合牌號(hào)鑒別只需1~2秒鐘，操作簡(jiǎn)單，即使非技術(shù)人員也可輕松掌握。4、靈...

1.ZSI：剪切干涉測(cè)量技術(shù)提供z向高分辨率圖像。2.ZFT：使用集成寬帶反射計(jì)測(cè)量膜厚度和反射率。3.AOI：自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)，并對(duì)樣品上的缺陷進(jìn)行量化。4.ZXI：白光干涉測(cè)量技術(shù)，適用于z向分辨率高的廣域測(cè)量。5.ZDot：同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和TrueColor（真彩）無限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。6.ZIC：干涉對(duì)比度，適用于亞納米級(jí)別粗糙度的表面并提供其3D定量數(shù)據(jù)。7.生產(chǎn)能力：通過測(cè)序和圖案識(shí)別實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量。8.光學(xué)輪廓儀可用于樣品復(fù)檢或缺陷檢測(cè)的高質(zhì)量顯微鏡。9.采用Z...