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高性能X射線熒光分析儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材...

課程KLAInstruments|Webinar課程：快速傅里葉變換：測厚膜時您的得力助手※適合新老客戶了解學(xué)習(xí)膜厚儀的使用；加深對產(chǎn)品的理解。超過8微米的厚膜會產(chǎn)生很多光干涉條紋。分析這樣復(fù)雜光譜的一個簡潔方法就是用快速傅里葉變換。FIL...

薄膜厚度測量儀作為一種測量膜層厚度的儀器，在很多的行業(yè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用，尤其是薄膜厚度測量儀，因為測量精度高、非接觸方、無須破壞樣品等優(yōu)點，受到眾多企業(yè)用戶和高校老師的喜愛，今天主要對薄膜厚度測量儀做個簡單介紹。一、薄膜厚度測量儀的優(yōu)...

臺階儀屬于接觸式表面形貌測量儀器。根據(jù)使用傳感器的不同，接觸式臺階測量可以分為電感式、壓電式和光電式3種。其測量原理是:當觸針沿被測表面輕輕滑過時，由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時，還沿峰谷作上下運動。觸針的運動情況就反映了表面輪廓的...

手持式合金分析儀是基于X射線理論而誕生的，它主要用于軍工、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場測定。是伴隨世界經(jīng)濟崛起的工業(yè)和軍事制造領(lǐng)域*的快速成份鑒定工具。手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認物質(zhì)...

薄膜厚度測量儀又名膜厚測試儀，分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理是，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大...